Источники-измерители
| Название | Производитель | Выходная мощность | Допустимая нагрузка по току | Допустимое напряжение | Диапазон сопротивления | Применение |
![]() |
Keithley |
22W | Мин:+\-10рА Макс: +/-1,05А |
Мин: +/- 1мВ Макс: +/-21/+/-210В |
‹0,2Ом до ›200мОм |
Резистивные устройства Диоды Оптоэлектронные компоненты IDDQ тестирование |
![]() |
Keithley |
22W | Мин:+\-10рА Макс: +/-1,05А |
Мин: +/- 1мВ Макс: +/-1100 В |
‹0,2Ом до ›200мОм |
Коэффициент напряжения Варисторы Высоковольтные диоды и защитные устройства |
![]() |
Keithley |
66W | Мин:+\-100рА Макс: +/-3,15А
|
Мин: +/- 1мВ Макс: +/-63В
|
‹0,2Ом до ›200мОм
|
Мощные резисторы Термисторы Солнечные батареи Батареи Диоды IDDQ тестирование |
![]() |
Keithley |
110W | Мин:+\-100рА Макс: +/-3,15А
|
Мин: +/- 1мВ Макс: +/-105В
|
‹0,2Ом до ›200мОм
|
Силовые полупроводниковые приборы DC / DC преобразователи Высоковольтные компоненты IDDQ тестирование |
![]() |
Keithley |
1100W* (В импульсном режиме) | Мин:+\-100рА Макс: +/-10,5А
|
Мин: +/- 1мВ Макс: +/-105В
|
‹0,2 Ом до ›200м Ом
|
Тестирование импульса высокой мощности Варисторы и другие устройства замыкания |
![]() |
Keithley |
55W | Мин:+\-100рА Макс: +/-5,25А
|
Мин: +/- 1мВ Макс: +/-42В
|
‹0,2Ом до ›200мОм
|
Мощные лазеры накачки |
![]() |
Keithley |
40.4W\канал | Мин:+/-1 рА Макс:+/- 3,03А при постоянному токе и в импульсном режиме/10А в импульсном режиме на канал |
Мин:+/- 1мВ Макс:+/-40.4 В\канал |
Тестирование нано-устройств и материалов Тестирование оптоэлектронных устройств, таких как Leds, VCSEls, и дисплеев Тестирование интегрированных устройств, таких как RFICs,ASICs, SOCs Испытание на надежность подложки Вольт-амперные характеристики полупроводниковых приборов |
|
![]() |
Keithley |
30.3W\канал | Мин:+/-1рА Макс:+/-1,5А при постоянном токе и в импульсном режиме\10А в импульсном режиме на канал |
Мин:+/- 1мВ Макс:+/-202В |
Тестирование нано-устройств и материалов Тестирование оптоэлектронных устройств, таких как Leds, VCSEls, и дисплеев Тестирование интегрированных устройств, таких как RFICs,ASICs, SOCs Испытание на надежность подложки Вольт-амперные характеристики полупроводниковых приборов |
|
![]() |
Keithley |
30.3W\канал | Мин:+/-1fА Макс:+/-1,5А при постоянном токе и в импульсном режиме\10А в импульсном режиме на канал |
Мин:+/- 1мВ Макс:+/-202В |
Тестирование нано-устройств и материалов Тестирование оптоэлектронных устройств, таких как Leds, VCSEls, и дисплеев Тестирование интегрированных устройств, таких как RFICs,ASICs, SOCs Испытание на надежность подложки Вольт-амперные характеристики полупроводниковых приборов |
|
![]() |
Keithley |
2W | Мин:+\-10aА* Макс: +/-1,05А |
Мин:+/- 1мВ Макс:+/-210В |
‹0,2Ом до›20тОм |
Исследования пучка частиц Тестирование одноэлектронного полупроводникового прибора Тестирование сверхвысокого сопротивления (выше 10¹⁵Ом) Тестирование нано материалов Экспериметальные наноструктуры |
![]() |
Keithley |
11W | Мин:+/-100fA Макс:+/-100мА |
Мин:+/-100мВ Макс:+/-1100В |
Получение DC/CW-характеристик полупроводниковых лазерных диодов и модулей Получение PIN и APD-характеристик Получение характеристик углеродных нанотрубок Исследования материалов Наноэлектроника |
|
![]() |
Keithley |
2000W в импульсном режиме 200W на постоянном токе | 50A 20A 10A 5A |
40V 10V 20V 40V |
10 Гом |
Силовая полупроводниковая электроника Мощные и сверхяркие светодиоды и оптические устройства GaN, SIC и другие композиционные материалы и устройства Температурные измерения стыков Изучение процессов электромиграции |
![]() |
Keithley |
20 W | 10pA–1A |
1μВ–20В |
до 200 МОМ |
Источник напряжения Источник тока Измеритель напряжения Измеритель тока Омметр |



























