4200-BTI-A

Пакет Ultra-Fast BTI модели 4200-BTI-A объединяет современные DC I-V и сверхбыстрые I-V измерительные возможности компании Keithley с ПО автоматического испытания для обеспечения самых современных платформ испытания NVTI/PBTI, доступных в индустрии полупроводниковых испытаний. Построенный на мощной среде испытаний параметрического анализатора полупроводников модели 4200-SCS, пакет 4200-BTI-A включает все инструменты, межсхемные соединения и программное обеспечение, необходимое для проведения самых утонченных NBTI и PBTI измерений на передовой технологии силиконовых КМОП транзисторов:

• Один модуль модели 4225-PMU для сверх быстрых вольтамперных измерений;
• Два модуля удаленного усилителя/переключателя модели 4225-RPM;
• Программное обеспечение версии 4,2 пакета автоматического снятия характеристик (ACS);
• Модули проектов сверх быстрых испытаний BTI;
• Разводка кабелями.

Общие характеристики:

• Лучшая в серии скорость проведения испытаний позволяет провести измерения быстрее и более полно:

- Можно проводить измерения снижения BTI уже сразу после 30нс отсутствия воздействия;

- Можно измерять VT-характеристику транзистора менее чем за 1 мкс, используя ID-VG метод свипирования;

• Модель удаленного усилителя-переключателя 4225-RPM:

- Автоматически переключает между низкоуровневыми точными DC I-V (как обычный SMU) и ультрабыстрых I-V измерениями без необходимости заново калиброваться;

- Улучшает работу источника моноимпульсного сигнала и измерений путем уменьшения паразитных эффектов в кабеле и увеличения чувствительности малого тока;

• Высокая чувствительность высокоскоростных измерений малого тока допустима в интегрированном моноблоке:

- Поддерживает снятие импульсной характеристики меньше микросекунд утечки тока при сниженной утечке напряжения, минимизируя область исток-сток, которая может повлиять на результаты испытаний;

-  Контролирует, что источник/измеритель не будет ограничивающим фактором в ходе проведения низкоуровневых измерений;

- Определяет тенденцию деградации во время испытания раньше, сокращает время, необходимое для проведения процесса мониторинга надежности;

• Простая угадываемая схема соединений предотвращает проблемы измерений, связанных с неправильными соединениями испытуемых устройств;
• Дополнительные кабели для мульти измерений (MMPC) оптимизируют проведение измерений конфигурациями, в которых состоят I-V и C-V измерения по постоянному току DC и сверх быстрые I-V возможности;
• ПО ACS версии 4,2 поддерживает комплекс построения последовательностей испытаний, включая до 20 последовательных измерений и полную зондовую интеграцию:

- DC I-V и ультра быстрые I-V измерения могут быть легко интегрированы в последовательность измерения воздействия;

- Деградация (ухудшения) и восстановительные процессы могут быть охарактеризованы с использованием воздействия как переменного, так и прямого токов;

- Совмещенные точечные измерения с точностью свипирования SMU в пре-тестовых и после-тестовых состояниях;

- Объединяет измерения захвата моноимпульсного заряда в более долгую последовательность измерения воздействия;

• Поддерживает обработку большой информации, необходимой в моделировании надежности устройства и в процессе наблюдения приложений;
• Поддерживает термо столы и полностью или полу- автоматические зонды, в том числе топологию подложки, геометрию подложки и образцов кассетного уровня.

Подробное описание в формате PDF